产品中心
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柔性VNA测试电缆 VNA-F1 40G
面向 40GHz 以内 VNA 测量的柔性测试电缆，低插损高重复，适合端口直连与频繁弯折。
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柔性VNA测试电缆 VNA-F2 26G 超柔
26.5GHz 超柔 VNA 测试线，更小弯曲半径，适合空间受限与高频次插拔的实验室工况。
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柔性VNA测试电缆 VNA-F3 相位级
指定相位稳定的柔性 VNA 测试电缆，适合相控阵与多端口相位一致性要求。
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产线耐用测试线 LIN-D1 18G
面向自动化产线的耐用测试线，高插拔寿命与一致性强，适合高频次射频测试治具。
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产线耐用测试线 LIN-D2 低互调
双频产线低互调耐用测试线，适合对互调敏感的自动化测试工位。
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产线耐用测试线 LIN-D3 加长定制
按治具走向定制的加长耐用测试线，减少转接与应力集中。
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超柔跳线 UFJ-S1 26G
26.5GHz 超柔跳线，极小弯曲半径，适合密集连接与频繁插拔的实验室跳接。
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超柔跳线 UFJ-S2 低损
低损耗超柔跳线，短距插损更低，适合对幅度敏感的跳接。
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超柔跳线 UFJ-S3 双头定制
双头异型接头的超柔跳线定制，适合跨界面短距连接。
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SMA/3.5/2.92 端接组件 TA-P1 精密
精密级端接组件，覆盖 SMA、3.5mm 与 2.92mm，低 VSWR 与低互调，适合计量与精密测量。
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SMA/3.5/2.92 端接组件 TA-P2 镀镍
镀镍端接组件，适合常规产线与耐腐蚀环境，成本更优。
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SMA/3.5/2.92 端接组件 TA-P3 角度型
带角度的端接组件，适合空间受限的密集连接。
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耐弯折高频测试线 BRH-K1 67G
67GHz 耐弯折高频测试线，相位稳定，适合毫米波与相控阵的高频测试。
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耐弯折高频测试线 BRH-K2 50G
50GHz 耐弯折高频测试线，性价比面向 2.4mm 界面的高频测试。
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耐弯折高频测试线 BRH-K3 相位级
指定相位稳定的耐弯折高频测试线，适合相位一致性要求极高的多端口台。
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实验室常规低损跳线 LLJ-L1 26G
26.5GHz 实验室常规低损跳线，通用经济，适合研发与教学的短距跳接。
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实验室常规低损跳线 LLJ-L2 低损
更低插损的实验室跳线，适合幅度敏感的研发测量。
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实验室常规低损跳线 LLJ-L3 N型
N 型接头的实验室低损跳线，适合大功率与通用仪器连接。
